為Topcon、HJT、鈣鈦礦等高效電池，在工藝、制程、品質(zhì)環(huán)節(jié)提供的研發(fā)、工藝驗(yàn)證和調(diào)整、質(zhì)量進(jìn)出料檢驗(yàn)等環(huán)節(jié)的測試儀器設(shè)備解決方案。優(yōu)化客戶采購成本和周期。
EL&IR 綜合測試儀（漏電測試儀）
數(shù)字粒子計(jì)數(shù)儀
二次元
精密天平
網(wǎng)板膜厚儀
實(shí)驗(yàn)室層壓機(jī)
水煮試驗(yàn)箱
卡尺、高度尺、大理石平臺
鈣鈦礦電池穩(wěn)定性測試系統(tǒng)
針對IEC61215、IEC61730等測試標(biāo)準(zhǔn)，為組件制造商認(rèn)證實(shí)驗(yàn)室及封裝材料的研發(fā)，材料導(dǎo)入評估環(huán)節(jié)提供全面的技術(shù)服務(wù)和實(shí)驗(yàn)室設(shè)備交鑰匙方案。
組件外觀測試臺
組件IV測試儀
組件EL測試儀
耐壓絕緣測試儀
步入式高低溫試驗(yàn)箱TC
步入式高低溫濕熱試驗(yàn)箱HF
步入式高溫高濕熱試驗(yàn)箱DH
引出端強(qiáng)度試驗(yàn)機(jī)
穩(wěn)態(tài)試驗(yàn)箱
彎曲試驗(yàn)機(jī)
實(shí)驗(yàn)室層壓機(jī)
交聯(lián)度測試系統(tǒng)（二甲苯萃取法）
溫度記錄儀
為汽車中控屏，HUD等電子零部件制造商的研發(fā)品控提供環(huán)境可靠性測試方案。
提供MOSFET，Diode，IGBT器件和模塊的可靠性測試儀器（TCT、HAST、Salt，HTOL）和靜態(tài)參數(shù)分析儀；使用熱流罩對器件和模塊快速溫度控制，配合ATE進(jìn)行工程開發(fā)和產(chǎn)品手動(dòng)篩選測試。
對LOGIC、ASIC、AI、5G、車用電子、邊緣計(jì)算的10W/50W中高功率集成電路產(chǎn)品的可靠性測試需求而設(shè)計(jì)；我們提供環(huán)境可靠性（TCT、TST、BHAST、）設(shè)備，和專用的HTOL/LTOL的設(shè)備用于動(dòng)態(tài)老化測試，另外我們對芯片性能ATE測試機(jī)上加配熱流，進(jìn)行對溫度條件測試。
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HAST設(shè)備應(yīng)用于半導(dǎo)體和封裝材料領(lǐng)域的芯片和封裝可靠性驗(yàn)證和快速篩選。獨(dú)特的雙箱體結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)，可以有效的保證溫度和濕度的均勻性和杜絕凝露的產(chǎn)生，這對通電器件的測試是非常重要的，此外抽屜式門設(shè)計(jì)可以方便安全的進(jìn)行樣品的取放和布線設(shè)計(jì)。
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